Különbség az AFM és az STM között

AFM vs STM

Az AFM az atomerő mikroszkópra, az STM pedig a pásztázó alagút mikroszkópra utal. E két mikroszkóp kifejlesztését forradalomnak tekintik az atomi és a molekuláris térben.

Amikor AFM-ről beszél, akkor pontos képeket készít, miközben nanométeres hegyet mozgat a kép felületén. Az STM kvantumos alagút használatával készít képeket.

A két mikroszkóp közül a szkennelő alagút mikroszkóp volt az első, amelyet kifejlesztettek.

Az STM-mel ellentétben a szonda közvetlenül érintkezik a felülettel, vagy kiszámítja a kezdeti kémiai kötést az AFM-ben. Az STM közvetett módon képes felmérni a szonda és a minta közötti kvantumfokú alagút kiszámítását.

Egy másik látható különbség az, hogy az AFM csúcsa a felülethez finoman érinti a felületet, míg az STM esetében a csúcsot a felülettől kis távolságra tartják.

Az STM-mel ellentétben az AFM nem méri az alagútáramot, hanem csak a felület és a csúcs közötti kis erőt méri.

Azt is láttuk, hogy az AFM felbontása jobb, mint az STM. Ez az oka annak, hogy az AFM-et széles körben használják a nanotechnológiában. Az erő és a távolság függőségéről beszélve az AFM összetettebb, mint az STM.

Amikor a pásztázó alagút mikroszkóp általában a vezetőkre alkalmazható, az atomi erő mikroszkóp mind a vezetőkre, mind a szigetelőkre alkalmazható. Az AFM jól alkalmazható folyadék- és gázkörnyezetben, míg az STM csak nagy vákuumban működik.

Az STM-hez képest az AFM topográfiailag pontosabb kontrasztot ad a magasság méréséhez és jobb felületi tulajdonságokkal rendelkezik.

összefoglalás

1. Az AFM pontos képeket készít egy nanométer méretű hegy mozgatásával a kép felületén. Az STM kvantumos alagút használatával készít képeket.

2. A szonda közvetlenül érintkezik a felülettel, vagy kiszámítja a kezdeti kémiai kötést az AFM-ben. Az STM közvetett módon képes felmérni a szonda és a minta közötti kvantumfokú alagút kiszámítását.

3. Az AFM csúcsa finoman érinti a felületet, míg az STM csúcsát a felülettől kis távolságra tartják..

4. Az AFM felbontása jobb, mint az STM. Ez az oka annak, hogy az AFM-et széles körben használják a nanotechnológiában.

5. Amikor a pásztázó alagút mikroszkóp általában a vezetőkre alkalmazható, az Atom erő mikroszkóp mind a vezetőkre, mind a szigetelőkre alkalmazható.

6. Az AFM jól alkalmazható folyadék- és gázkörnyezetben, míg az STM csak nagy vákuumban működik.

7. A két mikroszkóp közül a szkennelő alagút mikroszkóp volt az első, amelyet kifejlesztettek.