Különbség a TEM és a SEM között

TEM vs SEM

Mind a SEM (pásztázó elektronmikroszkóp / mikroszkópia), mind a TEM (átviteli elektronmikroszkóp / mikroszkópia) egyaránt vonatkozik a műszerre és az elektronmikroszkópiában alkalmazott módszerre.

Különböző hasonlóságok vannak a kettő között. Mindkettő elektronmikroszkóp típusú, és lehetőséget ad a minta kicsi, szubatomi részecskéinek vagy összetételének megtekintésére, tanulmányozására és vizsgálatára. Mindkettő elektronokat (konkrétan elektronnyalábot) használ, az atom negatív töltését. Ezenkívül a képek előállításához mindkét használt mintát „megfesteni” vagy össze kell keverni egy adott elemmel. Az ezekből a műszerekből készített képek nagyon nagyítottak és nagy felbontásúak.

A SEM-nek és a TEM-nek ugyanakkor vannak különbségei. A SEM-ben alkalmazott módszer szétszórt elektronokon, míg a TEM átvitt elektronokon alapul. A SEM-ben a szétszórt elektronokat visszaverődő vagy szekunder elektronokként osztályozzuk. A TEM-ben azonban nincs más elektron besorolás.

A SEM-ben szétszórt elektronok előállították a minta képét, miután a mikroszkóp összegyűjtötte és megszámolta a szétszórt elektronokat. A TEM-ben az elektronok közvetlenül a minta felé mutatnak. A mintán áthaladó elektronok azok a részek, amelyek a képen megvilágítottak.
Az elemzés fókuszpontja szintén eltérő. A SEM a minta felületére és összetételére összpontosít. Másrészt, a TEM arra törekszik, hogy mi legyen a felszínen vagy azon kívül. A SEM a mintát is apránként mutatja, míg a TEM a mintát egészként mutatja. A SEM háromdimenziós képet is nyújt, míg a TEM kétdimenziós képet nyújt.

A nagyítás és a felbontás szempontjából a TEM előnye van a SEM-hez képest. A TEM akár 50 millió nagyítási szintet is elérhet, míg a SEM csak 2 millió nagyítási szintet kínál. A TEM felbontása 0,5 angström, míg a SEM 0,4 nanométer. Ugyanakkor a SEM képek jobb mélységélességgel rendelkeznek, mint a TEM által előállított képek.
Egy másik különbség a minta vastagsága, a „festés” és az előkészületek. A TEM-ben lévő mintát vékonyabbra vágják, szemben a SEM mintával. Ezenkívül egy SEM mintát egy elem elemez, amely elkapja a szétszórt elektronokat.

SEM-ben a mintát speciális alumínium csíkokkal készítik és a műszer kamra aljára helyezik. A minta képet kivetítik a CRT-re vagy a televíziószerű képernyőre.
Másrészt, a TEM megköveteli, hogy a mintát TEM rácsban készítsék és a mikroszkóp speciális kamrájának közepére helyezzék. A képet a mikroszkóp állítja elő fluoreszcens képernyőkön keresztül.

A SEM másik jellemzője, hogy a minta elhelyezési területe különböző szögekkel elforgatható.
A TEM-et korábban fejlesztették ki, mint a SEM. A TEM-et Max Knoll és Ernst Ruska 1931-ben találta meg. Eközben a SEM-et 1942-ben hozták létre. Ezt később fejlesztették ki a gép szkennelési folyamatának összetettsége miatt..

Összefoglaló:

1.A két SEM és a TEM elektronmikroszkópok két típusa, és eszközök a kis minták megtekintésére és vizsgálatára. Mindkét eszköz elektronokat vagy elektronnyalábot használ. A mindkét eszközben elkészített képek nagyban nagyítottak és nagy felbontásúak.
2.Hogyan minden mikroszkóp működik, nagyon különbözik a másiktól. A SEM az elektron felszabadításával megvizsgálja a minta felületét, és az elektronokat ütéskor visszapattan vagy szétszórja. A gép összegyűjti a szétszórt elektronokat és képet hoz létre. A képet televíziós képernyőn jelenítik meg. Másrészt a TEM feldolgozza a mintát egy elektronnyaláb irányításával a mintán. Az eredmény fluoreszcens képernyő használatával látható.
3.A kép is különbségpont a két eszköz között. A SEM-képek háromdimenziós és pontos ábrázolások, míg a TEM-képek kétdimenziósak, és egy kissé értelmezést igényelhetnek. A felbontás és a nagyítás szempontjából a TEM több előnnyel jár, mint a SEM.